AI & Enterprise

KAIST、光学顕微鏡画像だけで2次元半導体を自動選別

KAISTは、光学顕微鏡画像のみを用いて2次元半導体を自動選別し、電極設計からトランジスタの作製・分析までを一貫して進める技術を開発した。MoS2で3〜8層の厚み差を識別し、12万個超から1615個の素子を作製した。

Industry

MIT、全固体電池の短絡要因を特定　粒界制御で電流密度3倍超

MITとミュンヘン工科大学は、全固体電池の短絡につながる要因として固体電解質内の粒界に着目し、加工条件の調整でデンドライトを抑制した。基準試料比で電流密度は300％超向上したという。