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KAIST研发二维半导体自动筛选技术:显微镜图像即可完成样品筛选并对接晶体管制备

KAIST联合UNIST等机构开发出一套二维半导体自动化筛选流程,可利用光学显微镜图像中的RGB亮度差异识别MoS2薄片厚度,并自动完成电极设计。经AFM验证,该技术可区分3层到8层MoS2薄片的厚度差异,已从逾12万片薄片中筛选目标样品,并制备、分析1615个晶体管,证实了厚度与电学性能之间的关系。